AD-omformere:
ADC med oppløsning på nanosekunder
Texas Instruments (TI) introduserer en ny analog-til-digital-omformer (ADC) som blant annet skal gi bedre og kontinuerlig overvåking av strømforsyningen i KI-datasentre.
Lanseringen ble presentert under Open Compute Project (OCP) Global Summit i San Jose.
Den nye ADC34DSO75 beskrives av TI som bransjens høyest presterende ADC med en samplingshastighet på 3 GSPS (gigasamples per second). Komponenten er utviklet for kontinuerlig, hendelsesbasert fjernovervåking og skal kunne oppdage kortvarige feil og spenningsforstyrrelser som dagens overvåkingsløsninger ofte ikke registrerer. Dette kan bidra til å redusere uplanlagt nedetid i datasentre, der selv korte avbrudd kan få store økonomiske konsekvenser.
ADC-en kombinerer høy samplingshastighet med integrert digital signalbehandling og skal kunne overvåke lavspente kraftskinner med høy oppløsning uten behov for lokal feilsøking eller eksterne oscilloskop. Ifølge TI er dette den første løsningen som tilbyr fullstendig fjernbasert, hendelsesstyrt telemetri på dette nivået.
Samtidig presenterte TI også LMI800PS, som selskapet beskriver som bransjens første isolerte hot-swap-kontroller for 800 V-systemer. Enheten integrerer flere funksjoner som normalt krever flere separate kretser, og skal redusere kortarealet med mer enn 60 prosent. Løsningen retter seg mot de stadig høyere spenningene som tas i bruk i neste generasjons KI-infrastruktur.
På timingsiden lanserte TI dessuten LMK6B, en BAW-basert (bulk acoustic wave) oscillator med jitter ned til 9,6 fs ved 625 MHz. Komponenten er utviklet for høyhastighetsnettverk i datasentre, der økende datahastigheter gjør presis klokkesynkronisering stadig viktigere for å sikre signalintegritet.
